三星 Galaxy Note 8 耐用性测试
据 ZDNet 报道,平安研究人员在险些主流的手机芯片中均发现了新的平安破绽。该破绽触发于 bootloader(指导加载程序)环节,涉及高通、MTK 联发科、NVIDIA 和华为等诸多 SoC。破绽中有 5 个属于零日,而且已经被制造商确认。由于出现在启动指导环节,以是会异常便利地被醉翁之意的黑客用于获取 ROOT 权限等。
报道称,研究人员测试的产物包罗搭载 Tegra 的 Nexus 9、搭载 MTK 芯片的 Xperia XA、搭载麒麟芯片的华为 P8 以及两款高通手机。
由于相关破绽已经通知到芯片厂商,以是就看各自的评估和修复进度了。
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